Transmission electron microscopy and X-ray diffraction analysis of alumina coating by alternate-current inverted magnetron-sputtering technique
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2007
Författare
Aditya Aryasomayajula
Sead Canovic
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Deepak Bhat
Matt Gordon
Mats Halvarsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Thin Solid Films
Vol. 516 397-401
Ämneskategorier
Övrig annan teknik