Transmission electron microscopy and X-ray diffraction analysis of alumina coating by alternate-current inverted magnetron-sputtering technique
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2007

Författare

Aditya Aryasomayajula

Sead Canovic

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Deepak Bhat

Matt Gordon

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Thin Solid Films

Vol. 516 397-401

Ämneskategorier

Övrig annan teknik