Grain contrast imaging in FIB and SEM
Paper i proceeding, 2008
Författare
Sead Canovic
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Torbjörn Jonsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Mats Halvarsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Institute of Physics: Conference Series
Vol. 126 012054
Ämneskategorier
Övrig annan teknik