Grain contrast imaging in FIB and SEM
Paper i proceeding, 2008

Författare

Sead Canovic

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Torbjörn Jonsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Institute of Physics: Conference Series

Vol. 126 012054

Ämneskategorier

Övrig annan teknik