The Comparison studies on growth kinetic of IMC of Cu/Sn3.0Ag0.5Cu (Sn0.4Co0.7Cu) joints during isothermal aging and their tensile strengths
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
Författare
Guo-Kui Ju
Xi-cheng Wei
Peng Sun
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Johan Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Soldering and Surface Mount Technology
0954-0911 (ISSN) 17586836 (eISSN)
Vol. 20 3 4-10Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik