Boron at Si/SiO2 interface in SOI wafers and consequences for piezoresistive MEMS devices
Paper i proceeding, 2008
SOI
Piezoresistive
Boron impurity
MEMS
Författare
Alexandra Nafari
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
David Karlén
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Cristina Rusu
Krister Svensson
Peter Enoksson
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
MicroMechanics Europe 2008
Ämneskategorier
Den kondenserade materiens fysik