Surface passivation oxide effects on the current gain of 4H-SiC bipolar junction transistors
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
Författare
Hyung-Seok Lee
Martin Domeij
Carl-Mikael Zetterling
Mikael Östling
Fredrik Allerstam
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Einar Sveinbjörnsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Applied Physics Letters
Vol. 92 082113-
Ämneskategorier
Materialteknik
Den kondenserade materiens fysik