A General Statistical Equivalent-Circuit-Based De-Embedding Procedure for High-Frequency Measurements
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
de-embedding
semiconductor device modeling
high-frequency measurement
CMOS
scattering parameters
maximum-likelihood estimation
Författare
Mattias Ferndahl
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Christian Fager
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Kristoffer Andersson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Peter Linner
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Hans-Olof Vickes
Saab
Herbert Zirath
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques
0018-9480 (ISSN) 15579670 (eISSN)
Vol. 56 12 2692-2700 4682659Ämneskategorier
Reglerteknik
DOI
10.1109/TMTT.2008.2007188