A General Weibull Model For Reliability Analysis Under Different Failure Criteria –Application on Anisotropic conductive adhesive joining technology
Paper i proceeding, 2004

Författare

Johan Liu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Liqiang Cao

Min Xie

Thong-Ngee Goh

Yong Tang

Proceedings of the Polytronik04

RT23-

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06