A General Weibull Model For Reliability Analysis Under Different Failure Criteria –Application on Anisotropic conductive adhesive joining technology
Paper i proceeding, 2004
Författare
Johan Liu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
Liqiang Cao
Min Xie
Thong-Ngee Goh
Yong Tang
Proceedings of the Polytronik04
RT23-
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik