Extraction of emitter and base series resistances of bipolar transistors from a single DC measurement
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2000

Författare

Martin Linder

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik

Jan Grahn

Shi-Li Zhang

Mikael Östling

IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing

Vol. 13 2 119-126

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik