Extraction of emitter and base series resistances of bipolar transistors from a single DC measurement
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2000
Författare
Martin Linder
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik
Jan Grahn
Shi-Li Zhang
Mikael Östling
IEEE Transactions on Semiconductor Manufacturing
Vol. 13 2 119-126
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik