Extraction of the base and emitter resistances in bipolar transistors using an accurate base resistance model
Paper i proceeding, 2002

Författare

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik

Martin Linder

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik

Proceedings of the 2002 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

71-75

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik