Extraction of the base and emitter resistances in bipolar transistors using an accurate base resistance model
Paper i proceeding, 2002
Författare
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik
Martin Linder
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik
Proceedings of the 2002 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
71-75
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik