An On-Wafer Method for C-V Characterisation of Heterostructure Diodes

Jan Stake; Hans Grönqvist

An On-Wafer Method for C-V Characterisation of Heterostructure Diodes
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995

Författare

Jan Stake

Institutionen för mikrovågsteknik

Forskning Andra publikationer

Hans Grönqvist

Institutionen för mikrovågsteknik

Forskning Andra publikationer

Microwave Opt. Technol. Lett.

Vol. 9 2 63-66

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-07

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Meddelande

Din e-postadress

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Chalmers bibliotek

Chalmers forskning

Chalmers examensarbeten

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE

An On-Wafer Method for C-V Characterisation of Heterostructure Diodes Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995