An On-Wafer Method for C-V Characterisation of Heterostructure Diodes
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995

Författare

Jan Stake

Institutionen för mikrovågsteknik

Hans Grönqvist

Institutionen för mikrovågsteknik

Microwave Opt. Technol. Lett.

Vol. 9 2 63-66

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik