Characterization of an entangled system of two superconducting qubits using a multiplexed capacitance measurement
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Författare
M. D. Shaw
Justin Schneiderman
J. Bueno
B. S. Palmer
Per Delsing
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Kvantkomponentfysik
P. M. Echternach
Physical Review B - Condensed Matter and Materials Physics
24699950 (ISSN) 24699969 (eISSN)
Vol. 79 1Ämneskategorier
Fysik
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1103/PhysRevB.79.014516