Charge-Carrier Injection Into The Buried Oxide Of Wafer-Bonded Silicon-On-Insulator Materials
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1995
Författare
Stefan Bengtsson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Per Ericsson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Ulf Södervall
Institutionen för fysik
K. Mitani
T. Abe
Journal Of The Electrochemical Society
Vol. 142 8 2721-2726
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik