Oxide Degradation Of Wafer Bonded Metal-Oxide Semiconductor Capacitors Following Fowler-Nordheim Electron Injection
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1992

Författare

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Forskning Andra publikationer

Anders Jauhiainen

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Olof Engström

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Forskning Andra publikationer

Journal Of The Electrochemical Society

Vol. 139 8 2302-2306

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-08

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE