Iso-electronic centers in III-V semiconductors studied by Scanning Tunneling Microscopy
Paper i proceeding, 2017
Författare
C K Krammel
R Plantega
M Roy
F J Tilley
P A Maksym
L Y Zhang
Shu Min Wang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fotonik
K Volz
L Natterman
M E Flatte
P M Koenraad
8th International Workshop on Bismuth Containing Semiconductors, Marburg, Germany, July 23-26, 2017
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik