High resolution chemical analysis in SEM
Paper i proceeding, 2006

Författare

Torbjörn Jonsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Sead Canovic

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Fang Liu

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

Mats Halvarsson

Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys

Forskning Andra publikationer

The 16th International Microscopy Congress (IMC16), September 3-8, 2006, Sapporo, Japan, H. Ichinose and T. Sasaki (eds), page 892

Ämneskategorier

Annan materialteknik

Mer information

Skapat

2017-10-06

Feedback och support

Om du har frågor, behöver hjälp, hittar en bugg eller vill ge feedback kan du göra det här nedan. Du når oss också direkt per e-post research.lib@chalmers.se.

Om tjänsten

Research.chalmers.se innehåller information om forskning på Chalmers, publikationer och projekt inklusive information om finansiärer och samarbetspartners.

Läs mer om tjänsten, täckningsgrad och vilka som kan se informationen

Personuppgifter och cookies

Tillgänglighet

Citation Style Language
citeproc-js (Frank Bennett)

Länkar

Chalmers bibliotek
Chalmers forskning
Chalmers examensarbeten

Chalmers tekniska högskola

412 96 GÖTEBORG
TELEFON: 031-772 10 00
WWW.CHALMERS.SE