A new procedure for extraction of series resistances for bipolar transistors from DC measurements
Paper i proceeding, 1999
Författare
Martin Linder
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik
Jan Grahn
Shi-Li Zhang
Mikael Östling
Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
147-151
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik