Stationary and dispersive features in resonant inelastic soft X-ray scattering at the Ge 3p resonances
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2009
Ultrafast dynamics
Synchrotron radiation
edge
raman-scattering
Spectroscopy
Semiconductors
solids
dynamics
spectra
Soft X-ray scattering (RIXS)
Författare
C. J. Glover
Australian National University
T. Schmitt
Paul Scherrer Institut
M. Mattesini
Universidad Complutense de Madrid
Martin Adell
Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik
Lars Ilver
Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik
Janusz Kanski
Chalmers, Teknisk fysik, Fasta tillståndets fysik
L. Kjeldgaard
Lunds universitet
M. Agaker
Uppsala universitet
N. Martensson
Uppsala universitet
Lunds universitet
R. Ahuja
Uppsala universitet
J. Nordgren
Uppsala universitet
J. E. Rubensson
Uppsala universitet
Journal of Electron Spectroscopy and Related Phenomena
0368-2048 (ISSN)
Vol. 173 2-3 103-107Ämneskategorier
Annan teknik
DOI
10.1016/j.elspec.2009.05.017