Capture cross sections for holes at LaLuO/Si interfaces
Paper i proceeding, 2010

Författare

Olof Engström

Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik

F Ducroquet

Bahman Raeissi

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

J. Schubert

J.M.J Lopes

H. D. B. Gottlob

Proceedings of the 16th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, p. 29, Bratislava, June 28 - 30 2010

Ämneskategorier

Övrig annan teknik

Mer information

Skapat

2017-10-06