Capture cross sections for holes at LaLuO/Si interfaces
Paper i proceeding, 2010
Författare
Olof Engström
Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik
F Ducroquet
Bahman Raeissi
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
J. Schubert
J.M.J Lopes
H. D. B. Gottlob
Proceedings of the 16th Workshop on Dielectrics in Microelectronics, p. 29, Bratislava, June 28 - 30 2010
Ämneskategorier
Övrig annan teknik