Optimization of SiC MESFET for high power and high frequency applications
Paper i proceeding, 2011
Silicon Carbide (SiC)
MESFET
High Power
DC Measurements
High Frequency
High Doped Channel
Small-Signal Measurements
SiC
Författare
Niclas Ejebjörk
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Herbert Zirath
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Peder Bergman
Björn Magnusson
Niklas Rorsman
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Materials Science Forum
0255-5476 (ISSN) 16629752 (eISSN)
Vol. 679-680 629-632Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.4028/www.scientific.net/MSF.679-680.629