Influence of waveguide width errors on TRL and LRL calibrations
Paper i proceeding, 2012
waveguide
LRL
VNA
S-parameters
TRL
calibration
uncertainty
Författare
Jörgen Stenarson
Gigahertzcentrum
Klas Yhland
Gigahertzcentrum
Thi Ngoc Do Thanh
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Huan Zhao Ternehäll
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
Peter Sobis
Gigahertzcentrum
Jan Stake
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
79th Automatic RF Techniques Microwave Measurement Conference (ARFTG)
6291182
978-1-4673-1230-1 (ISBN)
Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Ämneskategorier
Reglerteknik
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/ARFTG79.2012.6291182
ISBN
978-1-4673-1230-1