Electrical Methods For Characterizing Directly Bonded Silicon Silicon Interfaces
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1991

Författare

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Olof Engström

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Japanese Journal Of Applied Physics Part 1-Regular Papers Short Notes & Review Papers

Vol. 30 2 356-361

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik