Oxide Degradation Of Wafer Bonded Metal-Oxide Semiconductor Capacitors Following Fowler-Nordheim Electron Injection
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1992

Författare

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Anders Jauhiainen

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Olof Engström

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Journal Of The Electrochemical Society

Vol. 139 8 2302-2306

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik