Charge Trapping In Wafer Bonded Mos Structures
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 1992

Författare

Anders Jauhiainen

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Stefan Bengtsson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Olof Engström

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Microelectronic Engineering

Vol. 19 597-600

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik