Sensitivity Analysis of TRL Calibration in Waveguide Integrated Membrane Circuits
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2013

We present a sensitivity analysis on TRL calibrated S-parameter measurements of membrane circuits in the WR-03 waveguide band (220-325 GHz). The impact of waveguide and membrane circuit misalignment, as well as waveguide dimension mismatch is investigated. The analysis is performed for the thru-reflect-line (TRL) calibration applied to E-plane split waveguide blocks carrying membrane circuits. The analysis shows a large influence of the waveguide width tolerance on transmission and reflection phase after the TRL calibration. For a 20 mm long rectangular waveguide with a ± 5 μm width tolerance a phase uncertainty as large as ± 45° for reflection and ± 30° for transmission measurements is observed.

measurements

submillimeter wave

scattering parameters

monolithic integrated circuits (MICs)

TRL

membrane

vector network analyzer (VNA)

sensitivity analysis

Calibration

terahertz (THz)

Författare

Jörgen Stenarson

Thi Ngoc Do Thanh

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Huan Zhao Ternehäll

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

GigaHertz Centrum

Aik-Yean Tang

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

GigaHertz Centrum

Klas Yhland

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

GigaHertz Centrum

Jan Stake

GigaHertz Centrum

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology

2156-342X (ISSN)

Vol. 3 558-565 6585798

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Infrastruktur

Nanotekniklaboratoriet

Ämneskategorier

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1109/TTHZ.2013.2274371