Sensitivity Analysis of TRL Calibration in Waveguide Integrated Membrane Circuits
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2013
measurements
submillimeter wave
scattering parameters
monolithic integrated circuits (MICs)
TRL
membrane
vector network analyzer (VNA)
sensitivity analysis
Calibration
terahertz (THz)
Författare
Jörgen Stenarson
Thi Ngoc Do Thanh
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Huan Zhao Ternehäll
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
Peter Sobis
Aik-Yean Tang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
Klas Yhland
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
Jan Stake
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik
IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology
2156-342X (ISSN) 21563446 (eISSN)
Vol. 3 5 558-565 6585798Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Infrastruktur
Nanotekniklaboratoriet
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/TTHZ.2013.2274371