Single-Flange 2-Port TRL Calibration for Accurate THz S-Parameter Measurements of Waveguide Integrated Circuits
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014

This paper describes a single flange 2-port measurement setup for S-parameter characterization of waveguide integrated devices. The setup greatly reduces calibration and measurement uncertainty by eliminating vector network analyzer (VNA) extender cable movement and minimizing the effect of waveguide manufacturing tolerances. Change time of standards is also improved, reducing the influence of VNA drift on the uncertainty. A TRL calibration kit has been manufactured and measurements are demonstrated in WR-03 (220–325 GHz).

waveguide integrated

TRL

S-parameter

Membrane

Författare

Johanna Hanning

GigaHertz Centrum

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jörgen Stenarson

SP Sveriges Tekniska Forskningsinstitut

Klas Yhland

SP Sveriges Tekniska Forskningsinstitut

Peter Sobis

Omnisys Instruments AB

Tomas Bryllert

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jan Stake

GigaHertz Centrum

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology

2156-342X (ISSN)

Vol. 4 582-587 6877746

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Infrastruktur

Nanotekniklaboratoriet

DOI

10.1109/TTHZ.2014.2342497