Single-Flange 2-Port TRL Calibration for Accurate THz S-Parameter Measurements of Waveguide Integrated Circuits
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2014

This paper describes a single flange 2-port measurement setup for S-parameter characterization of waveguide integrated devices. The setup greatly reduces calibration and measurement uncertainty by eliminating vector network analyzer (VNA) extender cable movement and minimizing the effect of waveguide manufacturing tolerances. Change time of standards is also improved, reducing the influence of VNA drift on the uncertainty. A TRL calibration kit has been manufactured and measurements are demonstrated in WR-03 (220–325 GHz).

Membrane

waveguide integrated

S-parameter

TRL

Författare

Johanna Hanning

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

GigaHertz Centrum

Jörgen Stenarson

SP Sveriges Tekniska Forskningsinstitut AB

Klas Yhland

SP Sveriges Tekniska Forskningsinstitut AB

Peter Sobis

Omnisys Instruments

Tomas Bryllert

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

Jan Stake

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik

GigaHertz Centrum

IEEE Transactions on Terahertz Science and Technology

2156-342X (ISSN)

Vol. 4 5 582-587 6877746

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Infrastruktur

Nanotekniklaboratoriet

DOI

10.1109/TTHZ.2014.2342497