A comparison between SiO2/4H-SiC interface traps on (0001) and (11-20) faces
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

Halldor Olafsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Christer Hallin

Einar Sveinbjörnsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Materials Science Forum

Vol. 457-460 1305-1308

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06