Analysis of the electrono traps at the 4H-SiC/SiO2 interface using combined CV/thermally stimulated current measurements
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004

Författare

Tamara Rudenko

Halldor Olafsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Einar Sveinbjörnsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

I. Osiyuk

I Tyagulski

Microelectronics Engineering

Vol. 72 213-

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06