Analysis of the electrono traps at the 4H-SiC/SiO2 interface using combined CV/thermally stimulated current measurements
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Författare
Tamara Rudenko
Halldor Olafsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
Einar Sveinbjörnsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik
I. Osiyuk
I Tyagulski
Microelectronics Engineering
Vol. 72 213-
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik