Analysis of the electrono traps at the 4H-SiC/SiO2 interface using combined CV/thermally stimulated current measurements
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2004
Författare
Tamara Rudenko
Halldor Olafsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Einar Sveinbjörnsson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
I. Osiyuk
I Tyagulski
Microelectronics Engineering
Vol. 72 213-
Ämneskategorier (SSIF 2011)
Elektroteknik och elektronik