Linear and nonlinear characterization of low-stress high-confinement silicon-rich nitride waveguides: erratum
Artikel i övriga tidskrifter, 2017

We correct the value for the nonlinear Kerr effect of the silicon-rich nitride waveguide presented in Opt. Express 23, 25828 (2015).

Författare

Clemens Krückel

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Attila Fülöp

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Thomas Klintberg

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Jörgen Bengtsson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Peter Andrekson

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Victor Torres Company

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Fotonik

Optics Express

1094-4087 (ISSN)

Vol. 25 7 7443-7444

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Nanovetenskap och nanoteknik

Materialvetenskap

Ämneskategorier

Kommunikationssystem

Nanoteknik

Annan elektroteknik och elektronik

DOI

10.1364/OE.25.007443