Transmission electron microscopy assessment of the Si enhancement of Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts to undoped AlGaN/GaN heterostructures
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006

Författare

Vincent Desmaris

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Jin-Yu Shiu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Chung-Lu Lu

Niklas Rorsman

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Herbert Zirath

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Mikrovågselektronik

Edward-Yi Chang

Journal of Applied Physics

Vol. 100 34904-1-4-

Ämneskategorier

Annan materialteknik

Annan elektroteknik och elektronik