Transmission electron microscopy assessment of the Si enhancement of Ti/Al/Ni/Au Ohmic contacts to undoped AlGaN/GaN heterostructures
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2006
Författare
Vincent Desmaris
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Jin-Yu Shiu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Chung-Lu Lu
Niklas Rorsman
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Herbert Zirath
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Edward-Yi Chang
Journal of Applied Physics
Vol. 100 3 34904-1-4-
Ämneskategorier
Annan materialteknik
Annan elektroteknik och elektronik