Extracting the relative dielectric constant for “high-k layers”from CV measurements – errors and error propagation
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2007
Författare
Octavian Buiu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
S. Hall
Olof Engström
Fasta tillståndets elektronik
Bahman Raeissi
Fasta tillståndets elektronik
Max Lemme
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Paul Hurley
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Karim Cherkaoui
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Microelectronics Reliability
Vol. 47 678-
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik