Extracting the relative dielectric constant for “high-k layers”from CV measurements – errors and error propagation
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2007

Författare

Octavian Buiu

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

S. Hall

Olof Engström

Fasta tillståndets elektronik

Bahman Raeissi

Fasta tillståndets elektronik

Max Lemme

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Paul Hurley

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Karim Cherkaoui

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Microelectronics Reliability

Vol. 47 678-

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-06