Small- and Large-Signal Analyses of Different Low-Pressure-Chemical-Vapor-Deposition SiNx Passivations for Microwave GaN HEMTs
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2018
Capacitance-voltage (CV)
passivation
low-frequency dispersion
current collapse
low-frequency noise (LFN)
Författare
Tongde Huang
Nanjing University of Science and Technology
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Johan Bergsten
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Mattias Thorsell
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Niklas Rorsman
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
IEEE Transactions on Electron Devices
0018-9383 (ISSN) 15579646 (eISSN)
Vol. 65 3 908-914Ämneskategorier
Annan kemiteknik
Annan elektroteknik och elektronik
Den kondenserade materiens fysik
DOI
10.1109/TED.2017.2789305