On V-ce Method: In Situ Temperature Estimation and Aging Detection of High-Current IGBT Modules Used in Magnet Power Supplies for Particle Accelerators
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2019
particle accelerators
measuring circuits design
insulated gate bipolar transistor (IGBT)
temperature monitoring
magnet power supplies
Aging detection
V-ce method
Författare
Panagiotis Asimakopoulos
CERN
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Konstantinos Papastergiou
CERN
Torbjörn Thiringer
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Massimo Bongiorno
Chalmers, Elektroteknik, Elkraftteknik
Gilles Le Godec
CERN
IEEE Transactions on Industrial Electronics
0278-0046 (ISSN) 15579948 (eISSN)
Vol. 66 1 551-560 8331865Ämneskategorier (SSIF 2011)
Acceleratorfysik och instrumentering
Annan kemiteknik
Annan elektroteknik och elektronik
Styrkeområden
Energi
DOI
10.1109/TIE.2018.2823689