Multiline TRL Calibration Standards for S-parameter Measurement of Planar Goubau Lines from 0.75 THz to 1.1 THz
Paper i proceeding, 2018
Planar Goubau Lines
S-parameter characterization
Calibration
Multiline TRL
Terahertz circuits
On-wafer THz measurements
Författare
Juan Cabello Sánchez
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Helena Rodilla
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Vladimir Drakinskiy
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Jan Stake
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
IEEE MTT-S International Microwave Symposium Digest
0149645X (ISSN)
879-882Philadelphia, USA,
Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Infrastruktur
Kollberglaboratoriet
Nanotekniklaboratoriet
Ämneskategorier
Annan elektroteknik och elektronik
DOI
10.1109/MWSYM.2018.8439138