Reliability assessment of GaAs and InP THz mixers and frequency multipliers fabricated on 3" wafers
Paper i proceeding, 2019

We report on the developments in this two-yearEuropean Space Agency funded project that aims at performing a preliminary reliability study of 300 GHz InP heterostructure barrier varactor diode multipliers and 1.2 THz GaAs Schottky diode mixers. Fabrication of the monolithically integrated circuits will be done on 3” wafers usingestablished III-V processing. The reliability tests that will be performed include thermal and electrical step-stress studies, as well as shock, humidity and accelerated lifetime tests. We will present results and analysis of these experiments.

Författare

Josip Vukusic

Wasa Millimeter Wave AB

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Gigahertzcentrum

Vladimir Drakinskiy

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik

Gigahertzcentrum

Daniel Heinerås

Gigahertzcentrum

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Wasa Millimeter Wave AB

Divya Jayasankar

Gigahertzcentrum

RISE Research Institutes of Sweden

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Peter Sobis

Omnisys Instruments

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Gigahertzcentrum

Tomas Bryllert

Wasa Millimeter Wave AB

Gigahertzcentrum

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Saab

Vaclav Valenta

Europeiska rymdorganisationen (ESA)

Marie Geneviev

Europeiska rymdorganisationen (ESA)

Fernando Martinez Martin

Europeiska rymdorganisationen (ESA)

Jan Stake

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Terahertz- och millimetervågsteknik

Gigahertzcentrum

International Symposium on Space Terahertz Technology

30th International Symposium on Space Terahertz Technology
Gothenburg, Sweden,

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Infrastruktur

Kollberglaboratoriet

Myfab (inkl. Nanotekniklaboratoriet)

Ämneskategorier (SSIF 2011)

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Senast uppdaterat

2025-04-23