Thin foil analysis in the SEM
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2008
Författare
Mats Halvarsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Torbjörn Jonsson
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Sead Canovic
Chalmers, Teknisk fysik, Mikroskopi och mikroanalys
Journal of Physics: Conference Series
17426588 (ISSN) 17426596 (eISSN)
Vol. 126 4- 012075Ämneskategorier
Övrig annan teknik
DOI
10.1088/1742-6596/126/1/012075