Leakage current effects on C-V plots of high-k MOS capacitors
Paper i proceeding, 2008

Författare

Y Lu

S. Hall

I. Z. Mitrovic

W.M. Davey

Bahman Raeissi

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Olof Engström

Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik

K. Cherkaoui

S Monaghan

P.K. Hurley

H.D.B. Gottlob

M.C. Lemme

WODIM, Berlin, June 2008

Ämneskategorier

Annan teknik

Övrig annan teknik

Mer information

Skapat

2017-10-06