Leakage current effects on C-V plots of high-k MOS capacitors
Paper i proceeding, 2008
Författare
Y Lu
S. Hall
I. Z. Mitrovic
W.M. Davey
Bahman Raeissi
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Olof Engström
Chalmers, Teknisk fysik, Fysikalisk elektronik
K. Cherkaoui
S Monaghan
P.K. Hurley
H.D.B. Gottlob
M.C. Lemme
WODIM, Berlin, June 2008
Ämneskategorier
Annan teknik
Övrig annan teknik