Substrate Resistance Modeling for Noise Coupling Analysis
Paper i proceeding, 2003
Författare
Simon Kristiansson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Shiva P. Kagganti
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Ewert Tony
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
Olsson Jörgen
Kjell Jeppson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
International Conference on Microelectronics Test Structures, Monterey, California, USA
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik