A procedure for characterizing the BJT base resistance and Early voltages utilizing a dual base transistor test structure
Paper i proceeding, 2001

Författare

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Martin Linder

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Shi-Li Zhang

Jan Grahn

Mikael Östling

Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

31-36

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik