A procedure for characterizing the BJT base resistance and Early voltages utilizing a dual base transistor test structure
Paper i proceeding, 2001
Författare
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
Martin Linder
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
Shi-Li Zhang
Jan Grahn
Mikael Östling
Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
31-36
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik