A new test structure for parasitic resistance extraction in bipolar transistors
Paper i proceeding, 2001
Författare
Martin Linder
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap
Shi-Li Zhang
Jan Grahn
Mikael Östling
Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
25-30
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik