A new test structure for parasitic resistance extraction in bipolar transistors
Paper i proceeding, 2001

Författare

Martin Linder

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik och nanovetenskap

Shi-Li Zhang

Jan Grahn

Mikael Östling

Proceedings of the 2001 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

25-30

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik