Stress and recovery transients in bipolar transistors and MOS structures
Paper i proceeding, 1999

Författare

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik

Lars-Åke Ragnarsson

Institutionen för mikroelektronik

Per Lundgren

Institutionen för mikroelektronik

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik

Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

173-178

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik