Stress and recovery transients in bipolar transistors and MOS structures
Paper i proceeding, 1999
Författare
Fredrik Ingvarson
Institutionen för mikroelektronik
Lars-Åke Ragnarsson
Institutionen för mikroelektronik
Per Lundgren
Institutionen för mikroelektronik
Kjell Jeppson
Institutionen för mikroelektronik
Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
173-178
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik