A new procedure for extraction of series resistances for bipolar transistors from DC measurements
Paper i proceeding, 1999

Författare

Martin Linder

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik, Fasta tillståndets elektronik

Jan Grahn

Shi-Li Zhang

Mikael Östling

Proceedings of the 1999 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

147-151

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik