A new direct extraction algorithm for intrinsic Gummel-Poon BJT model parameters
Paper i proceeding, 1998

Författare

Fredrik Ingvarson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Kjell Jeppson

Institutionen för fasta tillståndets elektronik

Proceedings of the 1998 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures

159-164

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik