A new direct extraction algorithm for intrinsic Gummel-Poon BJT model parameters
Paper i proceeding, 1998
Författare
Fredrik Ingvarson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Kjell Jeppson
Institutionen för fasta tillståndets elektronik
Proceedings of the 1998 IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
159-164
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik