Extraction of the intrinsic base region sheet resistance in bipolar transistors
Paper i proceeding, 2000

Författare

Fredrik Ingvarson

Institutionen för mikroelektronik

Martin Linder

Kjell Jeppson

Institutionen för mikroelektronik

Shi-Li Zhang

Jan Grahn

Mikael Östling

Proceedings of the 2000 IEEE Bipolar/BiCMOS Circuits and Technology Meeting

184-186

Ämneskategorier

Elektroteknik och elektronik

Mer information

Skapat

2017-10-07