Reliability analysis of embedded chip technique with design of experiment methods
Paper i proceeding, 2005
Författare
Xiuzhen Lu
Liu Chen
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Zhaonian Cheng
Johan Liu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
2005 International Symposium on Electronics Materials and Packaging
pp43-49
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik