Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers (Invited)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010

Författare

Olof Engström

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Bahman Raeissi

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

Johan Piscator

Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2)

I. Z. Mitrovic

S. Hall

H. D. B. Gottlob

M Schmidt

K. Cherkaoui

Journal of Telecommunications and Information Technology

1509-4553 (ISSN) 1899-8852 (eISSN)

Vol. 1 10-

Styrkeområden

Informations- och kommunikationsteknik

Nanovetenskap och nanoteknik

Ämneskategorier

Övrig annan teknik

Elektroteknik och elektronik