Charging Phenomena at the Interface Between High-k Dielectrics and SiOx Interlayers (Invited)
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2010
Författare
Olof Engström
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Bahman Raeissi
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
Johan Piscator
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap
I. Z. Mitrovic
University of Liverpool
S. Hall
University of Liverpool
H. D. B. Gottlob
Advanced Microelectronic Center Aachen (AMICA)
M Schmidt
Advanced Microelectronic Center Aachen (AMICA)
P.K- Hurley
University College Cork
K. Cherkaoui
Université de Lyon
Journal of Telecommunications and Information Technology
1509-4553 (ISSN) 1899-8852 (eISSN)
Vol. 1 10-Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Nanovetenskap och nanoteknik
Ämneskategorier
Övrig annan teknik
Elektroteknik och elektronik