Submillimeter Wave S-Parameter Characterization of Integrated Membrane Circuits
Artikel i vetenskaplig tidskrift, 2011
Monolithic integrated circuits
Membranes
THz circuits
Calibration.
Scattering parameter measurements
Submillimete wave measurements
Författare
Huan Zhao Ternehäll
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Aik-Yean Tang
Gigahertzcentrum
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Peter Sobis
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
Tomas Bryllert
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Klas Yhland
Jörgen Stenarson
Jan Stake
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap (MC2), Terahertz- och millimetervågsteknik
Gigahertzcentrum
IEEE Microwave and Wireless Components Letters
1531-1309 (ISSN)
Vol. 21 2 110-112 5711413Styrkeområden
Informations- och kommunikationsteknik
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
Infrastruktur
Nanotekniklaboratoriet
DOI
10.1109/LMWC.2010.2097244