A DC Comparison Study Between H-Intercalated and Native epigraphenes on SiC substrates
Paper i proceeding, 2013
DC analysis
uniformity
graphene fabrication
Epi-graphene of SiC
comparison study
memory effects
H-Intercalation
Författare
Michael Winters
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Mattias Thorsell
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
J. ul Hassan
Niklas Rorsman
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
E. Janzen
Herbert Zirath
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Mikrovågselektronik
Materials Science Forum
0255-5476 (ISSN) 16629752 (eISSN)
Vol. 740-742 129-132Ämneskategorier
Materialteknik
DOI
10.4028/www.scientific.net/MSF.740-742.129