Test structures for studying flexible interconnect supported by carbon nanotube scaffolds
Paper i proceeding, 2017
Författare
Kjell Jeppson
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial
Di Jiang
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial
Shuangxi Sun
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial
Michael Edwards
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Elektronikmaterial
IEEE International Conference on Microelectronic Test Structures
Vol. 2017
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik
Nanoteknik
DOI
10.1109/ICMTS.2017.7954256