Micropolar Cohesive Zone Model for Delamination Failure in Microsystem Interconnects
Paper i proceeding, 2008
Författare
Yan Zhang
Chalmers, Tillämpad mekanik, Material- och beräkningsmekanik
Ragnar Larsson
Chalmers, Tillämpad mekanik, Material- och beräkningsmekanik
Jing-yu Fan
Johan Liu
Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial
Proceedings of the 22nd International Congress of Theoretical and Applied Mechanics
978-0-9805142-0-9 (ISBN)
Ämneskategorier
Teknisk mekanik
ISBN
978-0-9805142-0-9