Micropolar Cohesive Zone Model for Delamination Failure in Microsystem Interconnects
Paper i proceeding, 2008

Författare

Yan Zhang

Chalmers, Tillämpad mekanik, Material- och beräkningsmekanik

Ragnar Larsson

Chalmers, Tillämpad mekanik, Material- och beräkningsmekanik

Jing-yu Fan

Johan Liu

Chalmers, Teknisk fysik, Elektronikmaterial och system

Proceedings of the 22nd International Congress of Theoretical and Applied Mechanics

Ämneskategorier

Teknisk mekanik

ISBN

978-0-9805142-0-9

Mer information

Skapat

2017-10-07