Reliability Investigation for Encapsulated Isotropic Conductive Adhesives Flip Chip Interconnection
Paper i proceeding, 2004
Författare
Liu Chen
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Zonghe Lai
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Zhaonian Cheng
Johan Liu
Chalmers, Mikroteknologi och nanovetenskap, Fasta tillståndets elektronik
Proceedings of The 6th IEEE CPMT International Symposium on High Density Packaging and Component Failure Anlaysis (HDP´04)
Ämneskategorier
Elektroteknik och elektronik